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LIVRES NUMÉRIQUES
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - SELAHATTIN SAYIL

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Titre de l'éditeur : Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

SELAHATTIN SAYIL

 
158,20 $
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EN SAVOIR PLUS Résumé

This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing.  The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.


Détails
Prix : 158,20 $
Catégorie :
Auteur :  SELAHATTIN SAYIL
Titre : Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Date de parution : novembre 2017
Éditeur : LIVRES NUMÉRIQUES DIVERS
Sujet : NUL DIVERS
ISBN : 9783319696737 (3319696734)
Référence Renaud-Bray : 2360335
No de produit : 2360335
Droits numériques
Format : PDF
Disponibilité : Canada, consultez la liste des pays autorisés.
Gestion des droits numériques : Adobe DRM
Entrepôt numérique : NUMILOG
Nombre d'appareils autorisés : 3
Nombre de copier/coller : 0
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques , SAYIL , SELAHATTIN
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